Pour répondre aux besoins du marché, GGTL Laboratories ne cesse de développer des instruments pour améliorer et optimiser les analyses de gemmes. Nous nous concentrons sur l’authentification, la reconnaissance de synthèse, la recherche de traitement et la détermination de l’origine géographique.
La nouvelle D-Tect V2 est maintenant disponible.
Durant un an de développement, nous l’avons complètement repensée, elle est plus ergonomique, performante et compacte.
Equipée d’un spectromètre très sensible de nouvelle génération, sa vitesse de travail est quasiment multipliée par deux.
Elle est équipée de la dernière version de notre logiciel maison, Spect-Ident, auquel est ajouté une base de données apportant une aide précieuse au tri des diamants mêlé incolores. Spect-Ident surveille en temps réel les spectres collectés, et à l'aide de signaux (au choix) colorés, lumineux ou sonores, il indique au technicien les pierres 100% naturelles et attire son attention sur celles qui doivent être observées plus attentivement.
La D-Tect V2 peut analyser des diamants de toutes formes et toutes dimensions, de Ø 0.4 mm à… 100 ct et plus, aucune limite.
Pour la très grande majorité des pierres, l'analyse se fait à température ambiante, et les quelques pierres incertaines peuvent être analysées à basse température (77K, ou -196 °C) ainsi que cela se fait dans les laboratoires gemmologiques modernes.
En termes de rendement, son efficacité n'est plus à démontrer, un technicien entraîné peut, par exemple analyser jusqu'à plus de 1500 diamants de Ø 0.8 mm par heure, et encore plus pour les diamètres supérieurs.
Finalement, la D-tect V2 permet également la spectrométrie de diffusion Raman, ce qui permet d’identifier les substituts comme par exemple la moissanite synthétique, le CZ, le zircon naturel, etc.
Comme auparavant la D-Tect est, avec le DFI (Version 3 prévue en 2023), le seul instrument du marché qui, pour le diamant ne donne que deux réponses, "naturel" ou "synthétique".
Pas de "refer" à envoyer à un laboratoire, donc moins de frais et pas de temps perdu.
Demande de renseignements à switzerland [at] ggtl-lab.org (switzerland[at]ggtl-lab[dot]org), nous avons une unité de démonstration à Genève - Suisse, n’hésitez pas à nous contacter.
La D-Tect V2 est conçue, développée, et fabriquée en Suisse, elle est vendue exclusivement par GGTL Laboratories, Switzerland, Liechtenstein et Antwerp.
Documentation
Développé en interne, le DFI est un instrument extraordinaire dédié à l’identification des diamants synthétiques dans des lots de diamants mêlés incolores (D à Z) naturels. Une fois les compétences acquises, le DFI peut être utilisé pour un large panel d’analyses pour les diamants incolores et les pierres de couleur. Ses principes d’opération sont l’observation directe de la luminescence sous UV (plusieurs bandes d’excitation de l’UV lointain jusqu’à 405 nm), et sous excitation laser à basse température (77K) ou à température ambiante, et simultanément du spectre de luminescence. Enfin le DFI permet la spectrométrie de diffusion Raman. Actuellement, le DFI est le seul instrument (avec la D-Tect, conçue par GGTL Laboratories) à être capable d’identifier sans ambiguïté les diamants synthétiques, naturels et les imitations sans avoir besoin d’autres tests (pas de refer - pierre rejetée). L'efficace logiciel Spect-Ident de l’instrument développé par GGTL donne la possibilité à un utilisateur avec peu expérience d’arriver à une conclusion sans avoir nécessairement besoin d'interpréter le spectre et donne ainsi une vitesse de détection élevée. Le DFI peut être vendu avec un spectromètre à simple ou double canaux, calibrés pour l’irradiance. Ces spectromètres qui sont tous deux très lumineux, ont un détecteur CCD refroidi, ce qui permet une analyse rapide. Le système à canal simple a une résolution spectrale de 1.3 nm alors que le double en a une de 0.3 pour l'un (UV-Vis) et 0.7 nm pour l'autre (Vis-NIR).
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Notre spectromètre UV-Vis-NIR a été spécialement conçu pour analyser des gemmes de toutes tailles à partir de 1.0 mm, à température ambiante ou basse température (77K, azote liquide). Le temps d’analyse avec cet instrument est très rapide. Les analyses simples peuvent prendre moins de 50 millisecondes, ce qui rend les acquisitions de scans multiples très rapides. L’instrument peut être fourni dans plusieurs configurations qui permettent des résolutions de 0.3 à 1.2 nm. L’instrument est livré avec tous les accessoires nécessaires pour la spectroscopie à basse température et sur demande, nous pouvons vous fournir l’accessoire pour l’acquisition de spectres polarisés.
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Le Photoluminator de GGTL, système de spectromètres Raman et de photoluminescence a été spécialement conçu pour l’analyse des gemmes. Sa principale utilité est la spectrométrie de photoluminescence à basse température pour le diamant. Le système est ajustable avec divers spectromètres et lasers de 360 à 785 nm, ce qui offre une solution pour plusieurs budgets et utilisations. Le système standard du Photoluminator utilise trois lasers : à 405 nm, à 473 nm et à 532 nm. Ils peuvent être remplacés en moins d’une minute sans bouger l’échantillon qui est en cours d'analyse.
La chambre d’échantillonnage protège des réflexions du laser et ce dernier ne peut être mis en fonction qu’avec le système fermé car l’instrument est classifié comme un produit à laser de classe 1. La chambre d'analyse offre un volume de 28 x 29 x 32 cm et les échantillons sont déplacés sur par un porte-échantillons motorisée en XYZ, avec un débattement de 50 mm dans chaque direction. Le porte-échantillons est conçu pour être utilisé avec l’accessoire de basse température fourni avec le système.
Le Photoluminator GGTL peut être combiné avec une série de différents spectromètres via fibre optique. La version standard utilise un spectromètre à quatre canaux avec un détecteur CCD refroidi thermo-électriquement dont la plage d'efficacité est de 250 à 1050 nm avec une résolution de 0.3 nm. Si une luminosité plus grande est nécessaire, des spectromètres à double canaux ou même simple avec les même détecteurs CCD refroidis peuvent être fournis. Ceux-ci ont une résolution de 0.6 nm (deux canaux) et de 1.2 nm (simple canal), mais ont une luminosité plus élevée. Si une meilleure résolution est nécessaire, nous pouvons fournir avec l’instrument un spectromètre à échelle qui a une résolution de 0.05 nm de 350 à 1150 nm. Il utilise une caméra Andor qui a un détecteur CMOS refroidi. Le temps d’acquisition avec ce système est plus long qu’avec les spectromètres standards, l’instrument est plus complexe et nécessite une certaine expertise.
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Acier dur (C ≈ 0.70%), partiellement trempé
CHF 490.00 + frais d'expédition (TVA applicable pour envois en Suisse)
Envoyez votre commande à: switzerland [at] ggtl-lab.org (switzerland[at]ggtl-lab[dot]org)
Otto Wilhelm Hermann von Abich (né en 1806 à Berlin, mort en 1886 à Vienne) s'intéresse tôt à la géologie, grâce à son père, Wilhelm Von Abich, conseiller des mines, à son grand-père maternel Martin Klaport (1747 - 1817). Par la suite, alors qu'il était étudiant en physique et en mathématiques Abich a pu assister aux conférences de plusieurs grands scientifiques du 19ème siècle, George Hegel (philosophie), Leopold Ranke (histoire), Leopold von Buch (géologie) ainsi qu'aux conférences de Carl Ritter et Alexander von Humboldt sur la géographie.
En 1831, après avoir obtenu son diplôme universitaire, Abich soutient une thèse de minéralogie en latin et étudie les volcans en Italie entre 1833 et 1836. De 1841 à 1844, von Abich travaille comme professeur de géologie et minéralogie à l'université de Derpt (Tartu) (aujourd'hui en Estonie).
Références
- Buser M., 1998, Hüte-Konzept versus Endlagerung radioaktiver Abfälle; Argumente, Diskurse und Ausblick, Eidgenössisches Nuklearsicherheitsinspektorat ENSI, Schweitzerische Eidgenossenschaft, 64 p.
- CIPM (1879). Procès-Verbaux du Comité International des Poids et Mesures, 1878, Imp. Gauthier-Villars, Paris, France, 271p. (pages 166, 167, 169, 170, 217).
- Fremy, E. (Ed.). (1883). Encyclopédie chimique. (No. 71). P. Vicq-Dunod & Cie., 600 p. (page 9)
- Melik-Adamyan H.H., Khachanov C.V. (2011). Investigations by the German geologist, H. von Abich, in Armenia. INHIGEO Newsletter No. 43, pp 49-52 (Biographie)
- Meunier S. (1877). Géologie technologique. Traité des applications de la géologie aux Arts et à l'Industrie. VIII. Trad. Economic Geologie, Durham. J. Rotschild editor, Paris, 344pp (page 208)
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